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221 tulosta hakusanalla Mahaut Calio

Strumentazione per il monitoraggio delle radiazioni nello spazio

Strumentazione per il monitoraggio delle radiazioni nello spazio

Keyur Mahant; Hiren Mewada; Amit Patel

Edizioni Sapienza
2022
pokkari
Le particelle cariche possono causare effetti negativi sui veicoli spaziali e sui componenti elettronici. Gli effetti delle radiazioni delle particelle ad alta energia causano la carica della superficie del veicolo spaziale, il degrado o il guasto permanente dei componenti elettronici e dei sottosistemi per effetto di singoli eventi, danni da spostamento ed effetti di dose ionizzante nel veicolo spaziale. Gli effetti dei transitori di carica indotti dagli ioni possono essere suddivisi nelle tre categorie fondamentali: L'effetto TID l'accumulo di energia ionizzante depositata per un lungo periodo sui materiali semiconduttori. Il TID si verifica soprattutto a causa degli elettroni e dei protoni, che possono causare il guasto del dispositivo. La perdita totale di energia o il trasferimento al materiale per unit di distanza di viaggio attraverso il materiale chiamata LET I dispositivi elettronici possono essere disturbati dal passaggio di elettroni energetici, protoni o ioni pi pesanti che possono alterare lo stato di un circuito, producendo "effetti di evento singolo". SEU e multiple-bit upset (MBU) che modificano lo stato logico dei nodi interni del circuito. Possono essere ripristinati con diverse operazioni elettriche. Questi errori sono chiamati errori morbidi e sono recuperabili.
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Instruments de contrôle des radiations dans l'espace

Instruments de contrôle des radiations dans l'espace

Keyur Mahant; Hiren Mewada; Amit Patel

Editions Notre Savoir
2022
pokkari
Les particules charg es peuvent avoir des effets n fastes sur les engins spatiaux et les composants lectroniques. Les effets du rayonnement des particules haute nergie provoquent la charge de la surface du vaisseau spatial, la d gradation ou la d faillance permanente des composants et sous-syst mes lectroniques par des effets d' v nement unique, des dommages de d placement et des effets de dose ionisante dans le vaisseau spatial. Les effets des transitoires de charge induits par les ions peuvent tre divis s en trois cat gories de base: La dose ionisante totale (TID), le transfert d' nergie lin aire (LET) et les perturbations dues un v nement unique (SEU).L'effet TID est une accumulation d' nergie ionisante d pos e sur une longue p riode sur les mat riaux semi-conducteurs. L'effet TID est l'accumulation de l' nergie ionisante d pos e sur une longue p riode sur les mat riaux semi-conducteurs. La perte ou le transfert total d' nergie vers le mat riau par unit de distance de parcours travers le mat riau est appel TLE Les dispositifs lectroniques peuvent tre perturb s par le passage d' lectrons nerg tiques, de protons ou d'ions plus lourds qui peuvent modifier l' tat d'un circuit, produisant des "effets d' v nement unique". SEU et multiple-bit upset (MBU) qui modifient l' tat logique des noeuds internes du circuit. Elles peuvent tre r initialis es par diff rentes op rations lectriques. Ces erreurs sont appel es soft errors et sont r cup rables.
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Instrumente zur Überwachung der Strahlung im Weltraum

Instrumente zur Überwachung der Strahlung im Weltraum

Keyur Mahant; Hiren Mewada; Amit Patel

Verlag Unser Wissen
2022
pokkari
Die geladenen Teilchen k nnen nachteilige Auswirkungen auf Raumfahrzeuge und elektronische Komponenten haben. Die Strahlungseffekte hochenergetischer Teilchen f hren zur Aufladung der Oberfl che von Raumfahrzeugen, zur Beeintr chtigung oder zum dauerhaften Versagen elektronischer Komponenten und Subsysteme durch Einzeleffekte, Verlagerungssch den und Auswirkungen ionisierender Dosen im Raumfahrzeug. Die Auswirkungen von ioneninduzierten Ladungstransienten k nnen in drei grundlegende Kategorien unterteilt werden: Gesamtionisierungsdosis (TID), linearer Energietransfer (LET) und Einzelereignisst rung (SEU).TID-Effekt ist die Akkumulation von ionisierender Energie, die ber einen langen Zeitraum auf Halbleitermaterialien einwirkt. TID tritt vor allem durch Elektronen und Protonen auf, was zum Ausfall des Ger ts f hren kann. Der gesamte Energieverlust oder -transfer in das Material pro Einheitsdistanz wird als LET bezeichnet. Elektronische Ger te k nnen durch den Durchgang von energiereichen Elektronen, Protonen oder schwereren Ionen gest rt werden, die den Zustand eines Schaltkreises ver ndern und "Einzeleffekte" erzeugen k nnen. SEU und Multiple-Bit-Upset (MBU), die den logischen Zustand interner Knoten des Schaltkreises ver ndern. Sie k nnen durch verschiedene elektrische Operationen zur ckgesetzt werden. Diese Fehler werden als weiche Fehler bezeichnet, die wiederherstellbar sind.
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Faktoren, die zu schlechten Leistungen bei nationalen Prüfungen beitragen

Faktoren, die zu schlechten Leistungen bei nationalen Prüfungen beitragen

Mohamed Mahat Ali

Verlag Unser Wissen
2023
pokkari
Die akademischen Leistungen der Sch ler bei der Pr fung zum Kenya Certificate of Primary Education (K.C.P.E.) sind im Bezirk Mandera seit dem Jahr 2012 geringer als in anderen Bezirken Kenias. Ziel dieser Studie war es, die Wahrnehmung von Sch lern, Eltern und Lehrern ber die Gr nde f r die schlechten Leistungen der Sch ler in der Kenya Certificate of Primary Education-Pr fung in Mandera County herauszufinden. F r die Studie wurde eine qualitative Forschungsmethode verwendet. Es wurden halbstrukturierte Interviewleitf den verwendet, um Antworten von den Befragten zu erhalten. F nfzehn (15) Teilnehmer, die in drei Gruppen eingeteilt wurden (sechs Sch ler, ihre sechs Eltern und drei Lehrer), nahmen an der Studie teil. Die Befragten gaben eine Reihe von Herausforderungen an, die ihrer Meinung nach zu den schlechten Leistungen der Sch ler bei den nationalen Pr fungen beitragen, und nannten Ma nahmen zur Abhilfe. Anhand einer berpr fung der Schulakten wurden Daten ber die Leistungen der Sch ler bei den K.C.P.E.-Pr fungen des Jahres 2015 sowie demografische Daten der Teilnehmer gesammelt. Diese Studie wurde von einer Integration der Konflikttheorie der Bildung (Collins, 1971) und der Theorie der Bildungsproduktionsfunktion (Coleman, S. 1966) geleitet.
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Facteurs contribuant aux faibles résultats aux examens nationaux

Facteurs contribuant aux faibles résultats aux examens nationaux

Mohamed Mahat Ali

Editions Notre Savoir
2023
pokkari
Les r sultats scolaires des l ves l'examen du Kenya Certificate of Primary Education (K.C.P.E) sont faibles et la tra ne dans le comt de Mandera plus que dans tout autre comt du Kenya depuis l'ann e 2012. L'objectif de cette tude tait de d couvrir les perceptions des l ves, des parents et des enseignants sur les causes de la faible r ussite des l ves des coles publiques du comt de Mandera l'examen du Kenya Certificate of Primary Education. L' tude a utilis une m thode de recherche qualitative. Des guides d'entretien semi-structur s ont t utilis s pour recueillir les r ponses des personnes interrog es. Quinze participants, regroup s en trois groupes (six l ves, leurs six parents et trois enseignants) ont particip l' tude. Les personnes interrog es ont donn un certain nombre de d fis qu'elles consid rent comme des facteurs contributifs et des mesures d'att nuation des faibles r sultats des l ves aux examens nationaux. Un examen des dossiers scolaires a t utilis pour collecter des donn es sur les performances des l ves aux examens K.C.P.E. de 2015 ainsi que des informations d mographiques sur les participants. Cette tude a t guid e par une int gration de la th orie du conflit de l' ducation (Collins, 1971) et la th orie de la fonction de production de l' ducation (Coleman, S. 1966).
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