En este trabajo se presenta el modelo dise ado para el an lisis de im genes que contienen patrones de difracci n, as como el software desarrollado para efectuar mediciones de ngulos y distancias entre distintos puntos caracter sticos (se ales) comprendidos en los patrones bajo estudio por parte de los investigadores del Centro de Investigaci n en Materiales Avanzados (CIMAV). La raz n principal para elaborar este sistema es que los investigadores deben realizar el proceso de an lisis e indexaci n de patrones de difracci n de forma manual, tarea que se torna tediosa y propensa a errores humanos. Es por ello que se dise la herramienta para automatizar y asistir en la indexaci n de patrones en im genes, facilitando el proceso de detecci n de se ales y logrando con ello una medici n m s acertada entre los elementos del patr n de difracci n analizado.
