Kirjojen hintavertailu. Mukana 11 167 911 kirjaa ja 11 kauppaa.
Kansikuva: Testing Complex and Embedded Systems
Info

Kirjan Testing Complex and Embedded Systems (2010) on kirjoittanut Kim H. Pries. Kirjan kieli on englanti, ja sen on kustantanut CRC Press Inc. Kirja on laajuudeltaan 320 sivua ja se on sidottu.

Kuvaus

Many enterprises regard system-level testing as the final piece of the development effort, rather than as a tool that should be integrated throughout the development process. As a consequence, test teams often execute critical test plans just before product launch, resulting in much of the corrective work being performed in a rush and at the last minute. Presenting combinatorial approaches for improving test coverage, Testing Complex and Embedded Systems details techniques to help you streamline testing and identify problems before they occur—including turbocharged testing using Six Sigma and exploratory testing methods. Rather than present the continuum of testing for particular products or design attributes, the text focuses on boundary conditions. Examining systems and software testing, it explains how to use simulation and emulation to complement testing. Details how to manage multiple test hardware and software deliveriesExamines the contradictory perspectives of testing—including ordered/ random, structured /unstructured, bench/field, and repeatable/non repeatableCovers essential planning activities prior to testing, how to scope the work, and how to reach a successful conclusionExplains how to determine when testing is completeWhere you find organizations that are successful at product development, you are likely to find groups that practice disciplined, strategic, and thorough testing. Tapping into the authors’ decades of experience managing test groups in the automotive industry, this book provides the understanding to help ensure your organization joins the likes of these groups.

Tuotetiedot

ISBN 9781439821404
Kustantaja CRC Press Inc
Julkaistu 8.12.2010
Formaatti sidottu
Kieli englanti
Sivumäärä 320
Paino 589g
Otsikko Testing Complex and Embedded Systems
Tekijä Kim H. Pries; Jon M. Quigley

Hintavertailu: Testing Complex and Embedded Systems

Tarkastamme hinnat 11 eri kirjakaupasta.

Emme päivittäneet kirjan hintoja automaattisesti, koska verkkoliikenteesi tulee Suomen ulkopuolelta tai vaikuttaa epätavalliselta.

Kauppa
Adlibris
Haetaan hintaa...
Booky
Haetaan hintaa...
Kirja.fi
Haetaan hintaa...
Suomalainen
Haetaan hintaa...
Akateeminen Kirjakauppa
Haetaan hintaa...
Kansallinen Kirjakauppa
Haetaan hintaa...
Prisma
Haetaan hintaa...
Rosebud
Haetaan hintaa...
Finlandia Kirja
Haetaan hintaa...
Vinhan kirjakauppa
Haetaan hintaa...
Libristo
Haetaan hintaa...

Tällä hetkellä 0 kirjakauppaa myy teosta Testing Complex and Embedded Systems. Edullisin hinta toimitettuna on —, mikä on — halvempi kuin kallein tarjous.

Hintoja ei ole vielä päivitetty.

Hintahälytys

Saat sähköpostin, kun hinta on sama tai alittaa asettamasi hinnan.

Sisältääkö hinta toimituskulut?

Hintahistoria

Kirja.infon hintahistorian halvin hinta kirjalle Testing Complex and Embedded Systems viimeisen 90 päivän aikana:

Hintahistoriaa ei ole vielä kerätty tälle kirjalle.

Hinnat ilman toimituskuluja.

Tätä hintavertailleet katsoivat myös näitä